同轴光源可以检测什么?

同轴光源可以检测什么?

同轴光源发出的光比其他类型的光源更均匀，反光物体的检测更能体现其优势。同轴光源一般用于高反光物体表面划痕等缺陷检测、MARK点定位、激光打标字符、二维码识别、芯片和硅晶片损坏检测、LDE表面缺陷检测、反射率高的镜面被测物体划痕和文字检测。同轴光的应用就不一一详细介绍了，下面一起了解同轴光源。

同轴光源(同轴灯和金属平面漫反射光源)提供的照明比传统光源更均匀，从而提高了机器视觉的准确性和再现性。

平面均匀照亮，表面有光泽。

强化划痕、凹陷或压印特征。

漫射与/或吸收表面在镜面上形成对比。

降低透明外壳或遮盖物的透过率。

检测电子元件。

基准定位。

同轴灯主要用于检测反射强烈的平面物体，如玻璃。

同轴光源可以突出物体表面不平整，克服表面反射造成的干扰，主要用于检测物体平整光滑表面的碰撞、划痕、裂纹和异物。

同轴光源可以消除物体表面不平整造成的阴影，从而减少干扰;部分采用分光镜设计，减少光损失，提高成像清晰度，均匀照射物体表面。应用领域:系列光源最适合反射度高的物体，如金属、玻璃、胶片、晶片等表面划伤检测、芯片和硅晶片损伤检测、Mark点定位、包装条码识别等。